tem图怎么分析,TEM分析

tem可测磁包括制样，sem可测磁包括注金制样， afm三位置平行测量，xrd不限制元素，tgdsc最高温度达到1600度。这些测试是为了什么？为什么扫描电镜和透射电镜的图像不一致？它的光谱仪记录红外光的透过率与其波长或波数的关系曲线，得到红外光谱，然后对光谱进行分析，得到分子结构的信息。
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1、透射电镜(TEM透射电镜用高能电子束(加速电压一般在200KV以上)照射样品。由于样品厚度、元素、缺陷、晶体结构的不同，穿过样品的电子会产生不同的图案或图像对比度，因此我们可以推断出样品的相关信息。因为电子束要能穿透样品，所以要求样品厚度很薄，一般小于100纳米。如果你想做高分辨率，你需要更薄。明场图像是透射光束，衍射光束被滤除。原理就是衍射对比原理。
透射电子显微镜将加速和集中的电子束投射到非常薄的样品(薄片) 。